Diffrattometro a raggi X 2D
Vantaggi:
Profondità di penetrazione dei raggi X regolabile in continuo
Capacità di osservare la distribuzione dei piani cristallini con diversi orientamenti
Analisi della distribuzione dell'orientamento in campioni quali fibre, film sottili e polveri
Esame delle caratteristiche strutturali come la distorsione del reticolo e la dimensione dei cristalliti
- Tongda
- Liaoning, Cina
- 1-2 mesi
- 100 unità all'anno
- informazione
Dandong, Cina – Nei settori in rapida evoluzione della scienza dei materiali, dell'ingegneria chimica e della ricerca e sviluppo sui semiconduttori, l'analisi approfondita delle microstrutture è diventata fondamentale per guidare l'innovazione tecnologica. Per soddisfare la crescente domanda globale di strumenti analitici efficienti e precisi nell'industria e nella ricerca,Dandong Tongda Scienza e tecnologia Co., Ltd. presenta con orgoglio il suo prodotto tecnologico principale: il diffrattometro a raggi X 2D di nuova generazione (2D-XRD)Questo strumento non solo conserva le funzionalità classiche della diffrazione a raggi X tradizionale, ma, grazie alla sua esclusiva tecnologia di rilevamento 2D, inaugura una nuova era di analisi panoramica e approfondita dei materiali per gli utenti di diversi settori.

Superare i limiti 1D: sbloccare le dimensioni delle informazioni panoramiche
A differenza del tradizionale XRD 1D, che fornisce solo un modello di diffrazione lineare, il diffrattometro a raggi X 2D di Dandong Tongda Technology è dotato di un rilevatore di area 2D ad alte prestazioni in grado di catturare istantaneamente un'immagine completa modelli di diffrazione bidimensionali. Ciò significa un singolo, sUna semplice esposizione raccoglie una vasta quantità di informazioni strutturali spaziali. Elaborando, analizzando e interpretando questi ricchi dati 2D, i ricercatori ottengono informazioni molto più approfondite che mai.
Vantaggi dell'applicazione principale che potenzia la ricerca e sviluppo multidisciplinare
Capacità eccezionale di penetrazione e profilazione della profondità: Lo strumento è dotato della capacità unica di profondità di penetrazione dei raggi X regolabile in modo continuo, consentendo l'analisi non distruttiva del profilo di profondità. Che si analizzino rivestimenti, film sottili multistrato o regioni prossime alla superficie di materiali sfusi, gli utenti possono facilmente ottenere informazioni strutturali da diverse profondità, fornendopraticità senza precedenti per l'ottimizzazione dei processi e l'analisi dei guasti.
Approfondimento preciso sulla microstruttura e l'orientamento: Questa soluzione tecnologica affronta efficacemente i punti ciechi dei metodi tradizionali nell'analisi dell'orientamento. Consente un'analisi intuitiva e chiara osservazione della distribuzione dei piani cristallini con diverse orientazioni e analizza con precisione il distribuzione dell'orientamento macro e micro (texture) di vari campioni come fibre, film sottili e polveri. Questo è fondamentale per migliorare le proprietà meccaniche dei materiali polimerici e ottimizzare le caratteristiche fotoelettriche delle celle solari a film sottile.
Analisi strutturale approfondita su scala nanometrica: Andando oltre l'identificazione della macrofase e la misurazione della cristallinità, questo strumento può analizzare accuratamente le caratteristiche strutturali chiave come deformazione reticolare e dimensione dei cristallitiCiò fornisce un potente supporto di dati per lo sviluppo di leghe ad alte prestazioni, nuovi catalizzatori e materiali nanofunzionali, facilitando la transizione di nuovi materiali dal laboratorio all'industria.
Elevata produttività e capacità di studio dinamico:La tecnologia di rilevamento 2D consente una rapida raccolta dei dati, aumentando l'efficienza dell'analisi di ordini di grandezza. Questa tecnologia è adatta non solo per l'ispezione di qualità di routine ad alta produttività, ma anche per la perfettact per esperimenti in situ, come il tracciamentotransizioni di fase ed evoluzione strutturale in tempo reale durante processi di riscaldamento, raffreddamento o trazione, catturando ogni fotogramma chiave dei processi dinamici.
Dandong Tongda Scienza e tecnologia Co., Ltd. ha dichiarato: "Ci impegniamo a trasformare la tecnologia avanzata 2D-XRD in uno strumento potente e pratico per i nostri utenti. Il nostro obiettivo è offrire una finestra agli ingegneri e agli scienziati di ricerca e sviluppo a livello globale, consentendo loro di avere una visione più chiara e tridimensionale del mondo microscopico dei materiali, accelerando così il loro ritmo di innovazione.
Il lancio di questo diffrattometro a raggi X 2D dimostra senza dubbio la forza tecnica concentrata di Dandong Tongda Technology nel campo degli strumenti scientifici di fascia alta ed è destinato a creare un valore eccezionale per i clienti di tutto il mondo nei settori farmaceutico, delle nuove energie, dei semiconduttori, dell'esplorazione geologica, della produzione avanzata e altro ancora.
DiDandong Tongda Scienza e tecnologia Co., Ltd.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è un'azienda high-tech specializzata in ricerca e sviluppo, produzione e assistenza tecnica di strumenti analitici a raggi X di fascia alta. L'azienda persegue costantemente l'innovazione tecnologica come motore trainante, impegnandosi a fornire ai clienti industriali e di ricerca globali soluzioni di analisi dei materiali accurate e affidabili e un servizio post-vendita completo.

