Struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS)
- Tongda
- Liaoning, Cina
- 1-2 mesi
- 100 unità all'anno
| Parametro | Descrizione | |
| Prestazioni complete | Gamma di energia | 4,5-25 keV |
| Modalità di acquisizione dello spettro | Modalità di trasmissione | |
| Flusso di fotoni nel campione | >4×10⁶ fotoni/(s·eV) | |
| Risoluzione energetica | XANES: 0,5-1,5 eV EXAFS: 1,5-10 eV | |
| Percorso dei raggi X | Percorso di spurgo con elio per ridurre al minimo l'assorbimento d'aria | |
| Ripetibilità | Deriva energetica riproducibile < 50 meV | |
| Struttura | La configurazione a doppio cerchio di Rowland elimina la necessità per la commutazione della sorgente luminosa durante le misurazioni XAFS. Utilizzando un'unica sorgente di raggi X XAFS dedicata per generare un doppio fascio di raggi X, il sistema fornisce due raggi X energeticamente monocromatici tramite due cerchi di Rowland e due monocromatori. Ciò consente la caratterizzazione simultanea di due elementi metallici all'interno dello stesso campione, consentendo un'analisi parallela delle strutture atomiche locali di entrambi gli elementi metallici. | |
| Sorgente di raggi X | Energia | 2,0 kW; Alta tensione: 10-40 kV; Corrente: 1-50 mA |
| Bersaglio | Di serie con bersagli in W/Mo; altri materiali per i bersagli disponibili come optional. | |
| Monocromatore | Tipo | Cristallo analizzatore sferico con raggio di curvatura di 500 mm e diametro di 102 mm |
| Rivelatore | Tipo | Unità SDD di grandi dimensioni con area attiva di 150 mm² |
| Configurazioni aggiuntive | Cambia-campioni | Campionatore automatico a 18 posizioni per test continui e automatizzati di campioni multipli. |
| Cella di campionamento in situ | Celle in situ per varie condizioni: elettrocatalisi, campi multifisici a temperatura variabile e prove meccaniche | |
| Analizzatore di cristalli | Monocromatore a cristalli specializzato per l'analisi di elementi specifici |
Vantaggi principali:
Flusso di fotoni più elevato: Il nostro prodotto offre un flusso di fotoni superiore a 4.000.000 di fotoni/s/eV, garantendo un'efficienza di acquisizione dello spettro di gran lunga superiore rispetto a sistemi comparabili. Ciò consente di ottenere una qualità dei dati paragonabile a quella delle sorgenti di radiazione di sincrotrone.
Stabilità eccezionale: Lo strumento presenta un'eccellente stabilità dell'intensità della luce monocromatica, con variazioni inferiori allo 0,1%. La deriva energetica riproducibile durante acquisizioni ripetute si mantiene al di sotto di 50 meV.
Limite di rilevamento dell'1%: La combinazione di flusso elevato, ottimizzazione superiore del percorso ottico ed eccezionale stabilità della sorgente garantisce l'acquisizione di dati EXAFS di alta qualità, anche per concentrazioni elementari basse come l'1%.
Principio di funzionamento dello strumento:
Lo spettrometro a spettroscopia di assorbimento di raggi X a struttura fine (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica ed elettronica locale dei materiali. Trova ampia applicazione in diversi campi di rilievo, tra cui la catalisi, la ricerca energetica e le nanoscienze.
Geometria di prova del monocromatore da laboratorio XES
Geometria di prova del monocromatore XAFS da laboratorio
Dati relativi al manganese (Mn) e dati XAFS del bordo K del Mn: coerenti con la qualità della sorgente di radiazione di sincrotrone
Dati dello spettro di emissione Kβ del campione di ferro (Fe): XES da nucleo a nucleo e XES da valenza a nucleo.
Dati di prova
Dati EXAFS della lamina
Applicazioni
Questo spettrometro XAFS trova applicazioni di ampio respiro, consentendo ai clienti di realizzare scoperte rivoluzionarie in molteplici settori:
Nuove energie: Utilizzato nello studio delle celle a combustibile, dei materiali per l'immagazzinamento dell'idrogeno, delle batterie agli ioni di litio, ecc. Permette di analizzare i cambiamenti dinamici dello stato di valenza e dell'ambiente di coordinazione degli atomi centrali durante i processi catalitici.
Catalisi industriale: applicabile ad aree di ricerca come la catalisi con nanoparticelle e la catalisi a singolo atomo. Permette di caratterizzare la morfologia dei catalizzatori sui supporti e le loro interazioni con il materiale di supporto.
Scienza dei materiali: impiegata per la caratterizzazione di vari materiali, lo studio di sistemi complessi e strutture disordinate, nonché per l'indagine delle proprietà dei materiali di superficie e di interfaccia.
Scienze ambientali: possono essere utilizzate per analizzare la contaminazione da metalli pesanti in campioni come suolo e acqua, determinando lo stato di valenza e la concentrazione degli elementi.
Biomacromolecole: possono essere utilizzate per studiare la struttura atomica locale attorno ai centri metallici nelle metallobiomolecole.
Chi siamo
Dal 2013, Tongda Technology ha instaurato una partnership strategica con il gruppo di ricerca guidato dall'Accademico Chen Xiaoming dell'Accademia Cinese delle Scienze. La postazione di lavoro specializzata creata congiuntamente ha fornito all'azienda una solida base di ricerca per consolidare continuamente la propria presenza nel campo dell'analisi a raggi X. In qualità di contraente principale del progetto di sviluppo di strumenti e apparecchiature scientifiche di primaria importanza, avviato dal Ministero della Scienza e della Tecnologia, l'azienda ha collaborato con sette istituti di ricerca, tra cui l'Università Sun Yat-sen e l'Istituto di Tecnologia Informatica di Shenyang dell'Accademia Cinese delle Scienze, in un impegno coordinato durato otto anni. Nel 2021, ha lanciato con successo il primo diffrattometro a raggi X a cristallo singolo di produzione nazionale, con diritti di proprietà intellettuale completamente indipendenti, ponendo fine alla dipendenza di lunga data dagli strumenti importati in questo settore.
In termini di struttura del personale, la percentuale di personale addetto alla ricerca e sviluppo all'interno dell'azienda raggiunge il 30%, superando significativamente la media del settore. Per quanto riguarda la proprietà intellettuale, l'azienda ha accumulato ad oggi 23 brevetti e 7 diritti d'autore su software. Dal punto di vista del portafoglio prodotti, ha creato una matrice completa di strumenti analitici a raggi X che comprende diffrattometri della serie TD, diffrattometri da banco, spettrometri a fluorescenza a raggi X, diffrattometri per monocristalli, orientatori di cristalli e analizzatori di cristalli.
Sul fronte dell'integrazione tecnologica, il diffrattometro completamente automatico Tongda AI integra profondamente l'intelligenza artificiale con la robotica. L'apparecchiatura è dotata di un braccio robotico ad alta precisione in grado di gestire automaticamente il prelievo e l'analisi di vari tipi di campioni, tra cui polveri, film sottili e materiali sfusi. Tramite un'app mobile è possibile il funzionamento da remoto, mentre il sistema automatico di apertura e chiusura dello sportello migliora significativamente sia la sicurezza che la praticità durante l'utilizzo. L'architettura modulare offre inoltre un'ampia flessibilità per future espansioni funzionali e aggiornamenti di manutenzione.
