



L'accessorio per film sottili consente un'analisi XRD precisa di film di dimensioni nanometriche/micrometriche, ideale per semiconduttori, rivestimenti e polimeri. Migliora il segnale, riduce le interferenze del substrato e supporta la scansione ad alta velocità, ed è ampiamente utilizzato in ricerca e sviluppo e nel controllo qualità con i diffrattometri della serie TD.
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L'accessorio di misura a film sottile di Dandong Tongda Technology migliora le prestazioni integrando reticoli a fogli più lunghi. Questo design filtra efficacemente la radiazione diffusa, riducendo le interferenze dei segnali del substrato e rafforzando significativamente i segnali di diffrazione del film sottile.
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