



L'accessorio per la diffrazione a piccolo angolo di Dandong Tongda misura con precisione lo spessore di film multistrato su scala nanometrica (intervallo 0°-5°). Completamente compatibile con i diffrattometri della serie TD, offre praticità plug-and-play e una riproducibilità di 0,0001°, favorendo la ricerca nel campo delle nuove energie e dei semiconduttori.
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