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Diffrattometro1. La precisione del diffrattometro è elevata. 2. Il campo di applicazione del diffrattometro è ampio. 3. Il diffrattometro è facile da usare, pratico ed efficiente.Di più- Diffrazione di raggi X su monocristallo1. La macchina per monocristalli adotta la tecnologia di controllo PLC. 2. Design modulare, accessori plug and play. 3. Apparecchiatura elettronica di interblocco per porte di piombo con doppia protezione. 4. Tubo a raggi X a cristallo singolo: è possibile selezionare una varietà di bersagli, come Cu, Mo, ecc. 5. Il monocristallo adotta una tecnologia concentrica a quattro cerchi per garantire che il centro di nessun goniometro rimanga invariato.Di più
- Analizzatore di cristalli a raggi X in serie1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.Di più
- Diffrattometro a polvere1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kWDi più
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Accessori di misurazione integrati multifunzionali
- Tongda
- Liaoning, Cina
- 1-2 mesi
- 100 unità all'anno
Il modulo integrato multifunzionale per la misurazione, sviluppato da Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd., è un sistema integrato ad alta precisione progettato specificamente per goniometri ad ampio angolo. Consente un'analisi completa di film sottili su piastre, materiali massivi e substrati grazie al collegamento multiasse e al controllo intelligente, permettendo la determinazione precisa di parametri chiave quali l'identificazione di fase, la distribuzione dell'orientamento, l'evoluzione della tessitura, i campi di stress residuo e la struttura planare del film sottile.
Principi tecnici fondamentali e caratteristiche funzionali degli accessori di misurazione integrati multifunzionali
Test di figura di polo a doppia modalità (trasmissione e riflessione)
Il metodo di trasmissione è adatto a campioni trasparenti o a strato sottile (ad esempio, pellicole polimeriche, rivestimenti ottici). Rileva i segnali di diffrazione che penetrano nel campione per ottenere informazioni sull'orientamento tridimensionale dei grani interni.
Il metodo di riflessione è adatto a campioni altamente assorbenti o opachi (ad esempio, lamiere metalliche laminate, substrati ceramici). Analizza l'orientamento dei piani cristallini tramite i segnali di diffrazione superficiale. La combinazione di entrambi i metodi consente la costruzione di figure di polo nello spazio completo, permettendo una quantificazione precisa dei tipi di tessitura (ad esempio, tessitura a fibre, tessitura a lamelle).
Test di resistenza mediante i metodi Psi (inclinazione laterale) e Omega (accoppiamento).
Il metodo Omega (scansione accoppiata) mantiene l'allineamento simmetrico del rivelatore e della sorgente di raggi X, rendendolo adatto all'analisi delle tensioni superficiali.
Il metodo Psi (inclinazione laterale) prevede l'inclinazione del campione per separare i gradienti di stress dalle distorsioni reticolari. È particolarmente indicato per l'analisi approfondita della distribuzione dello stress in materiali a gradiente o film multistrato.
Combinando i dati ottenuti con entrambi i metodi, è possibile calcolare le tensioni residue macroscopiche (ad esempio, quelle introdotte dalla lavorazione meccanica o dal trattamento termico), fornendo una base di valutazione per la resistenza all'usura e le proprietà antifatica.
Analisi della struttura planare di film sottili
Utilizza una scansione continua dell'asse β (rotazione sul piano) da 0° a 360° per mappare l'orientamento dei grani all'interno del piano della pellicola.
Questa funzione è specificamente progettata per studi di corrispondenza reticolare in film sottili epitassiali e materiali bidimensionali, consentendo l'analisi delle relazioni di orientamento dell'interfaccia dell'eterogiunzione e della densità dei difetti.
Sistema di posizionamento meccanico di precisione
Il sistema di movimentazione multiasse degli accessori di misurazione integrati multifunzionali utilizza encoder ad alta precisione e un controllo a circuito chiuso per garantire la ripetibilità e l'accuratezza dei dati:
Asse α (inclinazione): intervallo dinamico: da -45° a 90°, passo minimo: 0,001°. Supporta misurazioni dall'incidenza radente alla diffrazione ad alto angolo.
Asse β (rotazione sul piano): rotazione continua a 360°, passo: 0,001°. Consente la scansione dell'orientamento del campione senza angoli morti.
Asse Z (sollevamento verticale): Campo di corsa: 0-10 mm, Passo minimo: 0,001 mm. Adatto a campioni di diverso spessore (da sottili rivestimenti nanotecnologici a leghe massicce di elevato spessore).
Compatibilità dei campioni: supporta campioni fino a Φ100 mm di dimensione con altezza regolabile, adattandosi a diverse forme, dai wafer di silicio ai pezzi personalizzati.
Campi di applicazione degli accessori di misurazione integrati multifunzionali
Valutazione della tessitura cristallografica (orientamento preferenziale) in lamiere metalliche laminate e altri materiali metallici;
Analisi dell'orientamento cristallino nei materiali ceramici;
Valutazione dell'orientamento cristallino preferenziale in campioni di film sottili;
Test di tensostruttura in vari materiali metallici e ceramici (valutazione di proprietà quali resistenza all'usura, lavorabilità, ecc.);
Misurazione delle tensioni residue in film multistrato (valutazione della delaminazione del film, ecc.);
Analisi degli strati superficiali di ossido o nitruro su film sottili di materiale superconduttore ad alta temperatura, piastre metalliche, ecc.;
Caratterizzazione di rivestimenti multistrato su substrati di vetro, silicio (Si) o metallo (ad esempio, film sottili magnetici, rivestimenti metallici induriti in superficie);
Analisi di materiali placcati/rivestiti su polimeri, carta, lenti e altri substrati.
https://www.tongdaxrd.com/news/into-dandong-tongda-technology-co-ltd