1. Come stimare la dimensione dei cristalli di grano mediante adattamento?
Risposta:(1) Questa funzione nell'adattamento del picco seleziona uno o più picchi di diffrazione da adattare, la premessa è eseguire uno standardstrumentocurva, selezionare la curva di sfondo, la funzione di picco, ecc. appropriata, in modo che la dimensione dei grani stimata sia più accurata.
(2) Il"Kα2"La funzione nella funzione del mouse può essere utilizzata per adattare la dimensione dei grani ruotando la rotellina del mouse. Come mostrato dal picco di diffrazione a 25,3° nella figura seguente, è necessaria una funzione di forma del picco standard.
(3) Esiste un altro metodo in JADE, che può separare la dimensione del grano dalla larghezza di mezza altezza causata dalla deformazione. Sotto la funzione di picco di adattamento, tutti i picchi di diffrazione nelXRDmodello sono montati per verificare i risultati dell'analisi della dimensione del grano e della deformazione.
2. Nel processo di analisi quantitativa di più fasi, come distinguere la posizione di picco della fase sovrapposta?
Risposta:(1) JADE distingue i corrispondenti picchi di diffrazione di diversi oggetti attraverso diversi colori;
(2) In JADE, è possibile visualizzare i risultati dell'adattamento dei picchi di diffrazione di diverse fasi e vengono utilizzati anche colori diversi per distinguerli.
(3) L'adattamento del picco di diffrazione di una determinata fase può essere visualizzato monofase in JADE
3. Se perfezionati, quali sono i requisiti per i dati XRD?
Risposta:(1) Il campione ha una buona cristallizzazione e un picco di diffrazione netto;
(2) Il campione non ha problemi significativi di orientamento preferito;
(3) Informazioni precise sull'angolo;
(4) Ilpicco di diffrazioneil conteggio è elevato (il conteggio dei picchi più elevato è migliore di 10.000) e le statistiche dei dati sono buone;
(5) La gamma di angoli raccolti è la più ampia possibile (2theta non è generalmente inferiore a 120° per i target in rame) in modo che nel processo di finitura siano inclusi il maggior numero possibile di dati di diffrazione ad alta risoluzione.