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La tecnica di diffrazione dei raggi X viene spesso utilizzata per rilevare la qualità dei cristalli di wafer e wafer epitassiali.
L'analisi XRD è un metodo per analizzare la struttura degli atomi interni nella distribuzione spaziale delle sostanze utilizzando la diffrazione dei raggi X formati dai cristalli.
La diffrazione dei raggi X è un metodo per analizzare la struttura o la composizione di un campione proiettando su di esso un raggio di raggi X monocromatico.
La tecnologia XRD fornisce un potente strumento per studiare la composizione chimica e la composizione minerale della salamoia. Attraverso l'utilizzo di questa tecnica è possibile comprendere più a fondo le caratteristiche e il valore della salamoia.
I ricercatori dell'NREL hanno utilizzato capacità diagnostiche a raggi X all'avanguardia come metodo non distruttivo per esaminare la composizione e la struttura dei materiali delle batterie.
L'analisi dei materiali delle batterie aiuta a comprendere e ottimizzare le prestazioni delle batterie, a migliorarne la sicurezza e la durata, a ridurre i costi e a promuovere lo sviluppo e l'applicazione di nuovi materiali.
Il rilevamento qualitativo XRD è comodo, veloce e presenta meno interferenze. Con la continua innovazione dei mezzi tecnici, la tecnologia della diffrazione dei raggi X ha una prospettiva di applicazione più ampia nel campo dell'analisi dei materiali.
XRD utilizza come sorgente di diffrazione i raggi X monocromatici, che generalmente riescono a penetrare nel solido, in modo da verificarne la struttura interna. XRD fornisce informazioni sulla struttura della fase di massa del materiale.
Dagli anni '90, la tecnologia di imaging con tomografia a raggi X con radiazione di sincrotrone è stata ampiamente utilizzata nella ricerca sui materiali.