raggi Xdiffrazioneè una tecnica analitica non distruttiva comunemente usata che può essere utilizzata per rivelare la struttura cristallina, la composizione chimica e le proprietà fisiche delle sostanze. 

1.Analisi di fase

L'analisi di fase si basa sulla relazione tra la posizione e l'intensità delle linee di diffrazione nelDiffrazione di raggi Xmodello e periodo di disposizione atomica e contenuto di fase. La posizione della linea di diffrazione è correlata alla periodicità della disposizione degli atomi. Per le diverse fasi, esistono schemi di diffrazione dei raggi X specifici.

2.Parametro reticolo

La costante del reticolo è il parametro strutturale più basilare del materiale cristallino. Le basi teoriche di raggi XIl metodo di diffrazione per determinare i parametri reticolari consiste nel calcolare i parametri reticolari secondo la legge di Bragg e la relazione tra i parametri reticolari e il valore della spaziatura d del piano cristallino.

3.Sforzo residuo

Come uncontrolli non distruttivimetodo, la tecnica di diffrazione dei raggi X può essere utilizzata per studiare in profondità lo stress residuo. Lo stress residuo macroscopico si manifesta con lo spostamento della posizione del picco sullo spettro di diffrazione dei raggi X. Quando c'è uno stress di compressione, la distanza tra le facce dei cristalli diventa più piccola, quindi il picco di diffrazione si sposta ad un angolo più alto; al contrario, quando c'è stress da trazione, la distanza tra le facce dei cristalli viene estesa, con conseguente spostamento del picco di diffrazione ad un angolo inferiore.