IL accessorio di misura integrato multifunzionale È Utilizzato per analizzare pellicole su schede, blocchi e substrati, può eseguire test quali il rilevamento della fase cristallina, l'orientamento, la consistenza, lo stress e la struttura nel piano delle pellicole sottili.

Caratteristiche funzionali diaccessori di misura integrati multifunzionali：

Eseguire test di diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione;

Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione;

Test su film sottile (rotazione in piano dei campioni)

Campi di applicazione diaccessori di misura integrati multifunzionali：

Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate;

Valutazione dell'orientamento della ceramica;

Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili;

Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.);

Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello strappo del film, ecc.);

Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche;

Vetro Si、 Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.);

Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti.

Specifiche tecniche peraccessori di misura integrati multifunzionali：

Distanza minima del passo dell'asse alfa (inclinazione): 0,001 °/passo, gamma dinamica: - 45°-90°      

Passo minimo dell'asse β (rotazione): 0,001 °/passo, gamma dinamica: 0 ° -360 °

Distanza minima del passo sull'asse z: 0,001 °/passo, intervallo dinamico: 0-10 mm

Dimensioni del campione: diametro massimo di 100 mm, spessore regolabile