Il TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzioneè un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione.

Il TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzionesupporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione.

Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema.

Il principio di funzionamento del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione:

Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo.

Le caratteristiche principali del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzioneSono:

(1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic;    

(2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione;

(3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento;

(4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente;

(5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili;

(6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza.

L'elevata precisione del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzioneconsente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri delle celle, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere±0,0001°.

L'alta risoluzione del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzioneè in grado di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, di analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e di rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali.

La natura non distruttiva del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione: non danneggerà il campione durante il processo di analisi e il campione può essere mantenuto nel suo stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da ottenere.

Analisi rapida del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione:I moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro.

3. Campi di applicazione del TD-3700diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione:

Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori.

Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive.

Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni.

Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.