Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. I principali vantaggi di XAFS: Prodotto di flusso luminoso più elevato: Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

Utilizzando il metodo di diffrazione (trasmissione) dei raggi X per testare la struttura cristallina unica delle fibre. Testare l'orientamento del campione in base a dati quali la struttura delle fibre e la larghezza di metà picco.

I dati raccolti tramite apparecchiature a bassa temperatura producono risultati più ideali. Con l'aiuto di apparecchiature a bassa temperatura, possono essere fornite condizioni più vantaggiose, che possono consentire ai cristalli indesiderabili di ottenere risultati ideali, nonché ai cristalli ideali di ottenere risultati più ideali.

Struttura θ - θ, il campione rimane stazionario mentre la sorgente di radiazione e il rilevatore ruotano; Adottando una trasmissione con cuscinetti ad alta precisione importati, con buona stabilità; Controllo del sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione, Contiene un microprocessore RISC a 32 bit e un encoder magnetico ad alta risoluzione per la correzione automatica degli errori;

La struttura cristallina dei film di perovskite modificati dal BMIMAc liquido ionico (IL) sotto varie durate di ricottura è stata caratterizzata mediante diffrazione di raggi X.

L'analisi dei materiali delle batterie aiuta a comprendere e ottimizzare le prestazioni delle batterie, a migliorarne la sicurezza e la durata, a ridurre i costi e a promuovere lo sviluppo e l'applicazione di nuovi materiali.

La spettroscopia di assorbimento dei raggi X è una tecnica spettrale per analizzare la composizione elementare e gli stati elettronici dei materiali utilizzando le variazioni del segnale prima e dopo l'incidente dei raggi X della radiazione di sincrotrone.

XAFS, come tecnica di caratterizzazione avanzata per l'analisi della struttura locale dei materiali, può fornire informazioni più accurate sulla coordinazione della struttura atomica nell'intervallo della struttura a corto raggio rispetto alla diffrazione dei cristalli di raggi X.

Un materiale le cui proprietà sono dominate da effetti bidimensionali, le proprietà del materiale su scala bidimensionale sono diverse dalle sue proprietà su scala più ampia.

Recentemente, un nuovo studio ha fuso con successo ossidi metallici con zeolite A e ha rivelato il mistero di questo processo attraverso la tecnologia XRD e FTIR.

La struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali basati sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone.