Spettrometro Dandong Tongda XAFS: uno strumento di analisi della struttura dei materiali per il laboratorio

Spettrometro Dandong Tongda XAFS: uno strumento di analisi della struttura dei materiali per il laboratorio Analisi precisa della struttura dei materiali atomici senza dipendere dalle sorgenti di radiazione di sincrotrone. La spettroscopia XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) è una tecnica importante per studiare le strutture atomiche ed elettroniche locali dei materiali, con ampie applicazioni nella catalisi, nella ricerca energetica e nella scienza dei materiali. La metodologia XAFS convenzionale si basa principalmente su sorgenti di radiazione di sincrotrone, il che presenta sfide quali la limitata disponibilità del fascio, procedure applicative complesse e la necessità di trasportare i campioni in strutture scientifiche di grandi dimensioni per l'analisi. La tecnologia X-ray Absorption Fine Structure sviluppata da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. mira a integrare questa sofisticata capacità analitica in ambienti di laboratorio standard. Vantaggi principali e valore pratico La progettazione di questo strumento affronta diverse sfide critiche che i ricercatori incontrano: Alternativa di laboratorio alla radiazione di sincrotrone: elimina la tradizionale dipendenza dalle sorgenti di radiazione di sincrotrone, consentendo ai ricercatori di condurre test XAFS di routine in modo efficiente all'interno dei propri laboratori, migliorando così significativamente la produttività della ricerca. Capacità di test in situ: supporta l'integrazione di varie camere di campionamento in situ (ad esempio, elettrochimiche, a temperatura variabile), consentendo il monitoraggio in tempo reale dei cambiamenti dinamici nella struttura atomica locale del materiale in condizioni operative simulate (come reazioni catalitiche o processi di carica/scarica della batteria), fornendo preziose informazioni sui meccanismi di reazione. Funzionamento automatizzato per una maggiore efficienza: una torretta portacampioni a 18 posizioni consente il cambio automatico dei campioni, facilitando la misurazione automatica continua di più campioni e il funzionamento senza operatore, semplificando così lo screening di campioni in batch e gli esperimenti in situ prolungati. Ampio ambito di applicazione Lo spettrometro TD-XAFS trova applicazione in numerosi campi che richiedono indagini dettagliate sulle strutture locali dei materiali: Nuovi materiali energetici: analisi delle variazioni dello stato di valenza e della stabilità strutturale nei materiali degli elettrodi delle batterie agli ioni di litio durante i processi di carica/scarica; indagine degli ambienti di coordinazione nei siti attivi catalitici nelle celle a combustibile. Scienza della catalisi: particolarmente adatta per studiare strutture di coordinazione precise di nanocatalizzatori e catalizzatori monoatomici, caratteristiche del sito attivo e le loro interazioni con i materiali di supporto, anche a bassi carichi metallici (<1%). Scienza dei materiali: studio di strutture disordinate, materiali amorfi, effetti superficie/interfaccia e processi di transizione di fase dinamica. Scienze ambientali: analisi degli stati di valenza e delle strutture di coordinazione degli elementi metallici pesanti in campioni ambientali (ad esempio, suolo, acqua), fondamentali per valutare la tossicità e la mobilità. Macromolecole biologiche: studio delle strutture elettroniche e delle configurazioni geometriche dei centri attivi metallici nelle metalloproteine ​​e negli enzimi. Riepilogo Lo spettrometro TD-XAFS di Dandong Tongda rappresenta una piattaforma di test da banco ad alte prestazioni, progettata per università, istituti di ricerca e centri di ricerca e sviluppo aziendali. Integra con successo le capacità di un sincrotrone nei laboratori convenzionali, riducendo sostanzialmente la barriera di accessibilità alla tecnologia XAFS. Lo strumento fornisce ai ricercatori strumenti pratici, efficienti e flessibili per l'analisi microscopica della struttura dei materiali, rappresentando una soluzione pratica per gli scienziati che esplorano il mondo microscopico della materia.

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