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Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi della struttura in massa, l'analisi della struttura dei materiali, l'analisi dell'orientamento dei cristalli, la determinazione dello stress macroscopico o microscopico, la determinazione delle dimensioni delle particelle, la determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole.
Il diffrattometro a raggi X della serie TD eredita la sua elevata stabilità costante e la tecnologia di posizionamento servoazionato da vettori a circuito chiuso ad alta precisione, migliorando ulteriormente la precisione. Oltre a migliorare le prestazioni tradizionali come il percorso ottico plug and play con tripla protezione, il TD-3700 incorpora anche l'asse cavo verticale e la tecnologia di conteggio dei fotoni ibridi HPC, rendendolo un rappresentante della nuova generazione di diffrattometri a raggi X e uno dei migliori diffrattometri policristallini a raggi X al mondo.