La diffusione dei raggi X a piccolo angolo è la diffusione diffusa degli elettroni ai raggi X nella gamma dell'angolo piccolo vicino al fascio originale. La diffusione a piccolo angolo si verifica in tutti i materiali con densità elettronica non uniforme su scala nanometrica.

La diffrazione dei raggi X a piccolo angolo (SAXD) viene utilizzata principalmente per determinare la spaziatura di facce cristalline molto grandi o la struttura di film sottili.

Lo scattering di raggi X a piccolo angolo (SAXS) è una tecnologia che raccoglie segnali diffusi generati dai raggi X che passano attraverso un campione per studiare le informazioni strutturali di un campione nell'intervallo 1~100 nm.

Il diffrattometro a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio dell'interazione tra raggi X e sostanze per ottenere informazioni come la struttura cristallina e la costante reticolare delle sostanze misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità dei raggi X nelle sostanze.