Strumento di diffrazione con tecnologia Tongda

Il diffrattometro a raggi X viene utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento dei cristalli, la determinazione dello stress macroscopico o microscopico, la determinazione della dimensione del grano, la determinazione della cristallinità, ecc. Di campioni di polvere, blocco o pellicola.

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