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Misurazioni accurate, intuizioni straordinarie

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

2025/01/07
PER SAPERNE DI PIù
La chiave per scoprire il mondo microscopico della materia

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è uno strumento analitico utilizzato per studiare la struttura e le proprietà delle sostanze. XAFS ottiene informazioni su atomi e molecole in un campione misurando l'assorbimento dei raggi X del campione entro un intervallo di energia specifico. XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali. La tecnologia XAFS è ampiamente utilizzata nella scienza dei materiali, nella chimica, nella biologia e in altri campi, in particolare in aree di ricerca come catalisi, batterie, sensori, ecc. XAFS ha un importante valore applicativo. Attraverso la tecnologia XAFS, i ricercatori possono acquisire una comprensione più approfondita della microstruttura e delle proprietà dei campioni, fornendo un potente supporto per la progettazione e l'ottimizzazione di nuovi materiali.

2024/12/05
PER SAPERNE DI PIù
Perché lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è uno strumento indispensabile nella moderna scienza dei materiali?

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. I principali vantaggi di XAFS: Prodotto di flusso luminoso più elevato: Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

2024/10/22
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