Questo accessorio per film sottile per diffrattometri a raggi X consente l'analisi ad alta precisione di film su substrati. La sua ottica ottimizzata sopprime le interferenze del substrato, potenziando i segnali deboli del film per dati affidabili da nanometri a micrometri. Essenziale per la ricerca e sviluppo in elettronica, semiconduttori e nuove energie.

2025/12/10

PER SAPERNE DI PIù

Ricevi l'ultimo prezzo? Ti risponderemo al più presto (entro 12 ore)

nome : This field is required

Telefono : This field is required

*Email : Required and valid email address

azienda : This field is required

*messaggio : This field is required

Politica sulla riservatezza

Notizie