Sulla struttura fine di assorbimento dei raggi X

XAFS, come tecnica di caratterizzazione avanzata per l'analisi della struttura locale dei materiali, può fornire informazioni più accurate sulla coordinazione della struttura atomica nell'intervallo della struttura a corto raggio rispetto alla diffrazione dei cristalli di raggi X.

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Informazioni sul rilevatore a punto singolo

Di seguito vengono condivisi tre rilevatori a punto singolo: contatore proporzionale, contatore a scintillazione e rilevatore a stato solido a semiconduttore.

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