Applicazioni dei diffrattometri a raggi X nell'identificazione e nella caratterizzazione di nuovi materiali

La diffrazione a raggi X (XRD) è una tecnica non distruttiva fondamentale per l'identificazione e la caratterizzazione di nuovi materiali. Analizzando i modelli di diffrazione dei reticoli cristallini, permette di determinare la composizione di fase, la struttura cristallina e la microstruttura. Indispensabile per lo sviluppo di catalizzatori, batterie e biomateriali, la XRD consente un'analisi precisa di film sottili e delle modifiche strutturali, promuovendo l'innovazione nel campo della scienza dei materiali.

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