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Dandong Tongda Technology è specializzata nello sviluppo di accessori per la diffrazione a piccolo angolo, componenti dedicati per diffrattometri a raggi X. Coprendo un intervallo di angoli di diffrazione da 0° a 5°, questi accessori consentono una misurazione precisa dello spessore di film multistrato su scala nanometrica e supportano l'analisi strutturale dei nanomateriali. Progettati per una perfetta compatibilità con i diffrattometri TD-3500, TD-3700 e altre serie, sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica in campi come la scienza dei materiali, l'ingegneria chimica, la geologia e la mineralogia. Incorporando la tecnologia di controllo PLC importata e il design modulare, questi accessori migliorano significativamente l'automazione e la stabilità operativa delle apparecchiature. Gli strumenti della serie TD soddisfano ora gli standard internazionali e sono stati esportati con successo in paesi come gli Stati Uniti e l'Azerbaigian, fornendo un supporto tecnico fondamentale per la ricerca globale sui nanomateriali.