Tecnologia di analisi dei cristalli a raggi X ad alta precisione: uno strumento chiave per la caratterizzazione dei materiali multisettoriali

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF offre prestazioni eccezionali nell'analisi microstrutturale, supportando l'orientamento di singoli cristalli, il rilevamento di difetti e la misurazione delle sollecitazioni. Dotato di un design a tubo verticale con funzionamento multi-finestra e controllo PLC importato, garantisce elevata precisione e conformità alla sicurezza (radiazioni<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

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Strumento per l'analisi della struttura cristallina - Spettro di diffrazione dei raggi X

La spettroscopia di diffrazione di raggi X analizza principalmente lo stato cristallino e la microstruttura dei materiali e esistono due metodi di misurazione della diffrazione di raggi X per l'analisi dei cristalli.

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