



Questo accessorio per film sottile per diffrattometri a raggi X consente l'analisi ad alta precisione di film su substrati. La sua ottica ottimizzata sopprime le interferenze del substrato, potenziando i segnali deboli del film per dati affidabili da nanometri a micrometri. Essenziale per la ricerca e sviluppo in elettronica, semiconduttori e nuove energie.
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