Il rilevamento qualitativo XRD è comodo, veloce e presenta meno interferenze. Con la continua innovazione dei mezzi tecnici, la tecnologia della diffrazione dei raggi X ha una prospettiva di applicazione più ampia nel campo dell'analisi dei materiali.
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XRD utilizza come sorgente di diffrazione i raggi X monocromatici, che generalmente riescono a penetrare nel solido, in modo da verificarne la struttura interna. XRD fornisce informazioni sulla struttura della fase di massa del materiale.
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Dagli anni '90, la tecnologia di imaging con tomografia a raggi X con radiazione di sincrotrone è stata ampiamente utilizzata nella ricerca sui materiali.
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La spettroscopia di assorbimento dei raggi X è una tecnica spettrale per analizzare la composizione elementare e gli stati elettronici dei materiali utilizzando le variazioni del segnale prima e dopo l'incidente dei raggi X della radiazione di sincrotrone.
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La radiazione di sincrotrone è la radiazione elettromagnetica prodotta lungo la direzione tangente dell'orbita quando l'elettrone si muove lungo una curva ad alta velocità, che può essere utilizzata per svolgere molte ricerche scientifiche e tecnologiche avanzate.
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Allo stato attuale, XAFS è stato applicato in molti campi, in particolare nel campo della catalisi e della ricerca sui materiali delle batterie, ed è diventato un importante metodo di caratterizzazione accurata.
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Quando i materiali di grafite vengono utilizzati come materiali per elettrodi negativi per batterie al litio, una delle condizioni necessarie per il grado di grafitizzazione.
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Nel 1912, Laue et al. previsto dalla teoria e confermato dall'esperimento che la diffrazione può verificarsi quando i raggi X incontrano il cristallo, dimostrando che i raggi X hanno la proprietà dell'onda elettromagnetica, che divenne la prima pietra miliare nella diffrazione dei raggi X.
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XAFS, come tecnica di caratterizzazione avanzata per l'analisi della struttura locale dei materiali, può fornire informazioni più accurate sulla coordinazione della struttura atomica nell'intervallo della struttura a corto raggio rispetto alla diffrazione dei cristalli di raggi X.
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La diffrazione dei raggi X è una tecnica analitica non distruttiva comunemente usata che può essere utilizzata per rivelare la struttura cristallina, la composizione chimica e le proprietà fisiche delle sostanze.
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