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    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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I dati XRD sono stati utilizzati per calcolare la dimensione dei grani e la densità delle dislocazioni

2024-02-23

1.Calcolo della dimensione del grano:

La dimensione del grano è una misura della dimensione del grano in un materiale. Possiamo calcolare la dimensione del grano con la formula di Scherrer. La formula si basa sul rapporto tra l'ampiezza del mezzo picco deldiffrazionepicco e la dimensione del grano. La dimensione dei grani può essere calcolata misurando l'ampiezza del mezzo picco del picco di diffrazione.

L'espressione comune della formula di Scherrer è: D= kλ /(βcosθ), in cui il valore della costante K è correlato alla definizione di β, quando β è metà della larghezza e dell'altezza, K è 0,89; Quando β è la larghezza integrale, K è 1,0. I dati ottenuti sono mostrati in figura:

diffraction

In questo momento, la pendenza corrispondente è la distorsione reticolare mostrata dal materiale. Si può vedere che la distorsione reticolare corrispondente alla curva 1 è circa 0,016, e la distorsione reticolare corrispondente alla curva 2 è circa 0,008. Inoltre, prendi i dati dell'intercettazione per calcolare la granulometria del materiale:

materials

2.Calcolo della densità delle dislocazioni:

La dislocazione è un difetto comune dei cristallimateriali,e la densità delle dislocazioni può essere stimata mediante la formula di Scherrer. La seguente formula si basa sulla relazione tra l'intensità del picco di diffrazione e la densità di dislocazione e calcola la densità di dislocazione del materiale misurando l'intensità del picco di diffrazione.

​XRD

Per i materiali amorfi è necessario trattare la seguente formula:

diffraction

XRDi dati ci forniscono una grande quantità di informazioni quando studiamo le proprietà dei materiali. Calcolando la dimensione dei grani, la distorsione reticolare e la densità delle dislocazioni, è possibile comprendere meglio la struttura e le proprietà del materiale.


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