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  • Diffrattometro
    Diffrattometro
    1. La precisione del diffrattometro è elevata. 2. Il campo di applicazione del diffrattometro è ampio. 3. Il diffrattometro è facile da usare, comodo ed efficiente.
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  • Diffrazione di raggi X su monocristallo
    Diffrazione di raggi X su monocristallo
    1. La macchina per monocristalli adotta la tecnologia di controllo PLC. 2. Design modulare, accessori plug and play. 3. Apparecchiatura elettronica di interblocco per porte di piombo con doppia protezione. 4. Tubo a raggi X a cristallo singolo: è possibile selezionare una varietà di bersagli, come Cu, Mo, ecc. 5. Il monocristallo adotta una tecnologia concentrica a quattro cerchi per garantire che il centro di nessun goniometro rimanga invariato.
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  • Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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  • Diffrattometro a polvere
    Diffrattometro a polvere
    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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Perché lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è uno strumento indispensabile nella moderna scienza dei materiali?

2024-10-22

Spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

HAFS vantaggi principali:

Prodotto di flusso luminoso più elevato:

Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone

Ottima stabilità:

La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV

Limite di rilevamento 1%:

L'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono l'ottenimento di dati EXAFS di alta qualità anche quando il contenuto di elementi misurati è pari all'1%.
1.

Principio dello strumento

X-ray Absorption Fine Structure

XAFS

X-ray Absorption Fine Structure

2.dati di prova

XAFS

3.Elementi misurabili: la parte verde può misurare il lato K e la parte gialla può misurare il lato L

X-ray Absorption Fine Structure

4.campo di applicazione

XAFS


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