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    1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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Lo stress residuo è stato analizzato mediante XRD

2024-03-27

Lo stress residuo ha un grande impatto sulla stabilità dimensionale, sulla resistenza alla tensocorrosione, sulla resistenza alla fatica, sul cambiamento di fase e su altre proprietà di materiali e componenti. La sua misurazione è stata ampiamente preoccupata dal mondo accademico e industriale.

X-ray diffraction

Il principio base diDiffrazione di raggi X la misurazione dello stress residuo si basa sulla misurazione della deviazione dell'angolo di diffrazione, sull'ottenimento della deformazione e quindi sul calcolo dello stress residuo attraverso la meccanica elastica.


Nello stato non accentato, ildiffrazioneL'angolo 2θ non cambia con il cambiamento dell'azimut ψ delcristalloviso. Quando è presente uno stress residuo nel campione, la distanza tra le facce del cristallo cambierà. Quando si verifica la diffrazione di Bragg, anche il picco di diffrazione si sposterà e la distanza di spostamento è correlata allo stress.

diffraction

Nello stato di tensione di trazione, maggiore è l'azimut del piano cristallino ψ, maggiore è la spaziatura del piano cristallino d e minore è la distanza tra i piani cristallini d.diffrazioneAngolo 2θ secondo la legge di Bragg. Al contrario, nello stato di stress di compressione, maggiore è l'azimut ψ della faccia del cristallo, minore è la spaziatura delle facce del cristallo e, corrispondentemente, maggiore è l'angolo di diffrazione 2θ.

crystal

Secondo la Legge di Bragg e la teoria dell'elasticità si può dedurre:

X-ray diffraction

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