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    Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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    Diffrattometro a polvere
    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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La cristallinità del materiale polimerico è stata misurata mediante XRD

2023-10-11

I materiali polimerici hanno una vasta gamma di applicazioni in tutti gli aspetti della società odierna, infatti quasi ogni applicazione richiede proprietà specifiche e spesso diverse. Queste proprietà sono determinate principalmente dalla struttura del materiale polimerico. Un modo semplice e veloce per eseguire questo screening è perfezionare l'utilizzoDiffrazione di raggi Xhttps://www.tongdaxrd.com/product-list/x-ray-single-crystal-diffractometro(XRD) combinato con l'analisi a spettro completo.


Identificazione di tipologie di materiali e polimorfismi

Dopo l'analisi, i risultati ottenuti sono stati confrontati con il database organico ICDD PDF4+ e i risultati sono stati mostrati e confermati per il polietilene ad alta densità (HDPE) e il polipropilene isotattico.

X-ray diffraction

Cristallinità 

Utilizzando MDI JADE, la cristallinità può essere determinata direttamente mediante un metodo di raffinazione senza standard. Questo metodo prevede la deconvoluzione del modello di diffrazione mediante il metodo Rietveld per determinare direttamente la forza del contributo amorfo.

XRD

Polimorfismo e dimensione dei grani

I dati raccolti sono stati confrontati con il database organico ICDD PDF4+, evidenziando principalmente β-PP (blu) e tracce di α-PP (grigio). Si è scoperto che β-PP (33 nm) e α-PP (10 nm) avevano dimensioni di dominio diverse.

X-ray diffraction

Additivi e pigmenti

Nell'esempio qui riportato,XRDè stato applicato a un campione di resina con particelle di Al e TiO2 (rutilo) incorporate, quantificando il contenuto amorfo del 98% (XRF:98%), 0,9% TiO2 (XRF:0,74%) e 1,1% Al (XRF:1,16%) .

XRD





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