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L'analisi della struttura è stata eseguita da XRD

2023-10-27

I materiali inorganici rappresentano la maggior parte di tutti i materiali solidi, di cui i singoli cristalli sono pochi, e la stragrande maggioranza dei materiali è utilizzata in forma policristallina; Nei materiali policristallini, in teoria, l'orientamento cristallografico di ciascun grano è completamente disordinato e distribuito in modo casuale. Tuttavia, in molti materiali, attraverso la laminazione, l'estrusione e altri processi di deformazione, o anche senza deformazione, i grani del policristallo mostrano una distribuzione statisticamente più o meno irregolare, questo fenomeno è chiamato orientamento preferito, questostruttura organizzativasi chiama trama.

organizational structure


1. Studia le ragioni della trama

UN. L'esistenza della struttura porterà all'anisotropia delle proprietà materiali;

XRD

b.l'esistenza di texture, talvolta dannose, come l'apparenza di"orecchio"durante la lavorazione;

diffraction

C. l'esistenza della struttura, a volte è vantaggiosa, ad esempio, se nella piastra di acciaio si forma un gran numero di struttura superficiale {111}, le prestazioni di stampaggio profondo del materiale saranno notevolmente migliorate.

Pertanto, la ricerca approfondita sulle texture è di grande importanza guida per la ricerca e lo sviluppo di nuovi materiali e il controllo del processo del prodotto.



2. Metodi di ricerca sulle texture

Principalmente gli attuali metodi di analisi della textureXRDed EBSD, entrambi presentano vantaggi e svantaggi, e molte volte i due sono spesso combinati:

Il campione XRD è semplice e i risultati della misurazione sono macroscopici.

Il metodo EBSD è complesso e i risultati della misurazione sono microscopici, ma EBSD può fornire direttamente la distribuzione dell'orientamento dei cristalli.




3. Principio dell'analisi delle texture XRD

Se i grani nel campione di cristallo mostrano un orientamento completamente casuale, la forza è distribuita uniformemente:

organizational structure

Se è presente una struttura nel cristallo, ciò causerà inevitabilmente fluttuazioni nell'intensità della diffrazione e questi cambiamenti di intensità riflettono la distribuzione non uniforme dell'orientamento dei grani nello spazio:

XRD

Pertanto, finché ildiffrazioneviene misurata l'intensità dell'intensità ad ogni angolo a e b, la mappa polare può essere ottenuta mediante la proiezione del piano rosso della radiazione polare. Calcola in base al diagramma polare misurato, puoi ottenere il diagramma polare inverso, il diagramma ODF, la quantificazione della trama e altre informazioni:

diffraction



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