Panoramica del prodotto
ILAttacco di misura integrato multifunzionaleè un sistema di misura ausiliario ad alta precisione progettato per goniometri grandangolari.Attacco di misura integrato multifunzionaleViene utilizzato principalmente per l'analisi strutturale completa di materiali in fogli, materiali sfusi e film fissati a substrati. È in grado di eseguire diverse attività di test avanzate, tra cui l'identificazione di fase, la misurazione del grado di orientamento, l'analisi della texture, i test di sollecitazione e la caratterizzazione della struttura piana di film sottili. Integrando più assi di movimento, questo accessorio fornisce una potente piattaforma per lo studio delle microstrutture e delle proprietà meccaniche dei materiali.
Caratteristiche
Le funzionalità principali diAttacco di misura integrato multifunzionale si riflettono nelle sue diverse modalità di test e nel controllo del movimento ad alta precisione:
Test della figura polare: supporta la mappatura della figura polare utilizzando il metodo di trasmissione o il metodo di riflessione, consentendo la caratterizzazione completa della distribuzione dell'orientamento preferito dei grani nei materiali policristallini.
Test di sollecitazione: utilizza sia il metodo dell'inclinazione laterale che quello dell'iso-inclinazione per la misurazione della sollecitazione, offrendo flessibilità per adattarsi a diversi progetti sperimentali e condizioni del campione per una misurazione accurata delle sollecitazioni residue superficiali e interne nei materiali.
Analisi della struttura del film sottile: dotato di capacità di rotazione del campione nel piano (asse β), che lo rende particolarmente adatto allo studio di materiali a film sottile anisotropi e all'analisi delle informazioni strutturali dei cristalli lungo diverse direzioni nel piano.
Controllo di precisione sincronizzato multiasse: consente una regolazione precisa della postura spaziale e del posizionamento del campione per percorsi di scansione complessi attraverso il movimento coordinato degli assi Alpha (inclinazione), Beta (rotazione) e Z (sollevamento) ad alta precisione.
Campi di applicazione
Attacco di misura integrato multifunzionale ha una vasta gamma di applicazioni, che coprono quasi tutti i campi dei materiali avanzati che richiedono un'analisi approfondita della struttura cristallina e dello stato di stress:
Materiali metallici: utilizzati per valutare la struttura aggregata (tessitura) dei fogli laminati e analizzarne l'anisotropia dopo la formatura.
Ceramica e ceramica funzionale: esegue la valutazione dell'orientamento dei materiali ceramici, fondamentale per comprendere le loro proprietà piezoelettriche, ferroelettriche e di altro tipo.
Film sottili e rivestimenti:
Valuta l'orientamento preferito dei cristalli nei campioni di film sottile.
Esegue test di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici per valutare le proprietà meccaniche quali la resistenza all'usura e la lavorabilità.
Esegue test di stress residuo su pellicole multistrato, utilizzati per prevedere e prevenire guasti dovuti a delaminazione della pellicola.
Analizza film sottili superconduttori ad alta temperatura, film di ossido/nitruro su lamiere e film multistrato su substrati di vetro, silicio e metallo (ad esempio, film sottili magnetici, rivestimenti induriti su superfici metalliche).
Materiali polimerici e compositi: utilizzati per l'analisi strutturale e prestazionale di materiali macromolecolari, carta, lenti e altri materiali di placcatura.
Specifiche tecniche
Le specifiche tecniche diAttacco di misura integrato multifunzionale riflettono la sua elevata precisione e flessibilità. I parametri principali sono i seguenti:
Asse alfa (inclinazione):
Gamma dinamica: da -45° a 90°
Passo minimo: 0,001°/passo
Asse Beta (Rotazione / Rotazione nel piano):
Gamma dinamica: da 0° a 360°
Passo minimo: 0,001°/passo
Asse Z (sollevamento):
Gamma dinamica: 0 - 10 mm
Passo minimo: 0,001 mm/passo
Dimensione del campione:
Diametro massimo del campione: Φ100 mm
Lo spessore del campione è regolabile per soddisfare diverse esigenze di prova.
