1.Come distinguere rigorosamente la struttura di amorfi, quasicristalli e cristalli nel modello XRD?
Risposta:Non esiste una divisione rigorosamente definita tra i tre. SulXRDmodello ottenuto dal diffrattometro, il modello è caratterizzato da più o più stretti"picchi"che sono generalmente indipendenti l'uno dall'altro. Se questi"picchi"sono significativamente più larghi, si può determinare che la dimensione delle particelle dei cristalli nel campione sarà inferiore a 300 nm, che può essere chiamata"microcristalli".
La caratteristica del modello di diffrazione amorfo è che solo un leggero cambiamento nell'intensità della diffusioneRaggi Xviene osservato nell'intero intervallo dell'angolo di scansione, che può avere da uno a diversi valori massimi; All'inizio, poiché l'intensità del fascio è prossima al fascio diretto, l'intensità diminuisce rapidamente con l'aumentare dell'Angolo, e l'intensità dell'Angolo alto tende lentamente al valore di fondo dello strumento.
IL"amorfo"la transizione tra questi due tipi è la"quasicristallino"stato.
2.Quando si esegue la diffrazione di raggi X, se si utilizzano target diversi, come un target di rame o un target di Cr, gli spettri dei due saranno gli stessi?
Risposta:Obiettivi diversi hanno lunghezze d'onda caratteristiche diverse. L'angolo di diffrazione dipende dalla lunghezza d'onda utilizzata nell'esperimento. Secondo l'equazione di Bragg, gli angoli di diffrazione di un certo gruppo di facce di cristallo con spaziatura d saranno diversi, e gli angoli di diffrazione di ciascun gruppo di facce di cristallo con valori di spaziatura mostreranno cambiamenti regolari.
Pertanto, la posizione del picco di diffrazione sul modello di diffrazione ottenuto daTubi a raggi Xcon target diversi non è la stessa cosa e il cambiamento della posizione del picco di diffrazione è regolare. Un cristallo ha il proprio insieme di valori d che sono inerenti alla sua struttura e possono essere utilizzati come parametro caratteristico della sostanza cristallina.