ILattacco di diffrazione a piccolo angoloè un componente specializzato utilizzato negli strumenti di diffrazione dei raggi X, principalmente per l'analisi della struttura e dello spessore dei materiali su scala nanometrica.
1. Funzioni principali diaccessori per diffrazione a piccolo angolo
(1) Intervallo di angolo di diffrazione: copre un piccolo intervallo di angoli da 0° a 5°, adatto per l'analisi di diffrazione di materiali su scala nanometrica.
(2) Applicazione principale: può testare accuratamente lo spessore di pellicole multistrato nano e supportare lo studio della superficie del materiale o della struttura dell'interfaccia.
2. Dispositivi compatibili peraccessori per diffrazione a piccolo angolo
Questo accessorio viene solitamente utilizzato insieme ai diffrattometri a raggi X (come TD-3500, TD-3700, TDM-20, ecc.).
3. Scenari applicativi diaccessori per diffrazione a piccolo angolo
(1) Scienza dei materiali: caratterizzazione delle strutture dei nanofilm e dei film multistrato.
(2) Chimica e ingegneria chimica: trattamento superficiale dei materiali, test dello spessore del rivestimento.
(3) Altri campi: analisi su scala nanometrica di materiali quali geologia, minerali, ceramiche e prodotti farmaceutici.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd.è uno dei principali produttori di tali accessori, con i suoi strumenti analitici della serie TD riconosciuti come conformi o prossimi agli standard internazionali, esportati in paesi come gli Stati Uniti e l'Azerbaigian. L'accessorio per diffrazione ad angolo piccolo dell'azienda è specificamente progettato per una perfetta integrazione con i diffrattometri a raggi X della serie TD sviluppati internamente. Essendo uno strumento fondamentale per l'analisi dei nanomateriali e la misurazione dello spessore di film sottili, questo accessorio deve essere utilizzato in combinazione con strumenti specializzati per la diffrazione a raggi X, con applicazioni concentrate in settori all'avanguardia come la scienza dei materiali e l'ingegneria chimica. Tecnicamente, funziona sul principio fondamentale della diffrazione a raggi X e incorpora l'avanzata tecnologia dei controllori logici programmabili (PLC) importati, insieme a una filosofia di progettazione modulare ereditata dagli strumenti della serie TD. Questo approccio ingegneristico migliora significativamente il livello di automazione, la stabilità operativa e la capacità anti-interferenza dell'apparecchiatura. Utilizzando questo accessorio, l'ambito di applicazione dei diffrattometri a raggi X può essere ampliato in modo efficace per comprendere la caratterizzazione microstrutturale di vari materiali avanzati, tra cui film sottili, materiali polimerici e nanomateriali, fornendo un supporto tecnico essenziale per la ricerca sui nanomateriali sia nel settore scientifico che in quello industriale.
