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    1. La precisione del diffrattometro è elevata. 2. Il campo di applicazione del diffrattometro è ampio. 3. Il diffrattometro è facile da usare, comodo ed efficiente.
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    Diffrazione di raggi X su monocristallo
    1. La macchina per monocristalli adotta la tecnologia di controllo PLC. 2. Design modulare, accessori plug and play. 3. Apparecchiatura elettronica di interblocco per porte di piombo con doppia protezione. 4. Tubo a raggi X a cristallo singolo: è possibile selezionare una varietà di bersagli, come Cu, Mo, ecc. 5. Il monocristallo adotta una tecnologia concentrica a quattro cerchi per garantire che il centro di nessun goniometro rimanga invariato.
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  • Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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  • Diffrattometro a polvere
    Diffrattometro a polvere
    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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Caratteristiche della diffrazione di raggi X

2023-08-18

Sebbene la diffrazione di neutroni, la diffrazione di elettroni, la spettroscopia infrarossa, lo spettro di Mossbauer e altri metodi possano essere utilizzati per analizzare la struttura della materia, la diffrazione di raggi X è il mezzo più efficace e più utilizzato, eDiffrazione di raggi Xè il primo metodo utilizzato dall'uomo per studiare la microstruttura della materia.


Caratteristiche:

(1) L'intervallo di lunghezze d'onda è 0,001~10 nm, tra i raggi ultravioletti e gamma sullo spettro elettromagnetico, e la lunghezza d'onda dei raggi X adatta per l'analisi di diffrazione è 0,05~0,25 nm.

(2) La penetrazione dei raggi X è molto forte, può penetrare nel legno spesso 2 ~ 3 cm, lastra di alluminio da 1,5 cm, ma la lastra di piombo spessa 1,5 cm può bloccare completamenteRaggi X.

(3) I raggi X possono produrre modelli di diffrazione nei cristalli e l'analisi dei modelli di diffrazione può determinare la struttura cristallina, che è diventata il mezzo principale per studiare la struttura della materia.


X-ray diffraction


ILTubo a raggi X non è pura luce monocromatica, contenente una varietà di lunghezze d'onda dei raggi, il più importante sono i raggi della serie K. Il raggio K si riferisce all'elettrone del catodo che si scontra con l'anodo, facendo sì che l'elettrone dell'anodo produca l'eccitazione K, e dopo aver colpito gli elettroni dello strato K, gli elettroni dello strato L o M riempiono gli elettroni dello strato K e producono raggi X. I raggi della serie K possono essere suddivisi in due tipi di raggi con lunghezze d'onda leggermente diverse: Kα (riempimento elettronico dello strato L) e Kβ (riempimento elettronico dello strato M). ILDiffrattometro a raggi Xrichiede l'uso di raggi X monocromatici. Pertanto, quest'ultimo deve essere rimosso duranteXRDtest e il metodo tradizionale consiste nell'aggiungere un filtro (come Ni) al percorso ottico. Gli obiettivi di rame sono ora comunemente usati, con un cristallo di grafitemonocromatoreaggiunto al percorso ottico per rimuovere i raggi Kβ. Il monocromatore può rimuovere lo sfondo di diffrazione e rimuovere anche l'interferenza dei raggi Kβ. Le righe spettrali caratteristiche del Cu sono: Kα1(1.54056 A), Kα2 (1.54439 A), Kβ1 (1.39222 A). Per i bersagli in rame, la lunghezza d'onda Kα è la media ponderata di Kα1 e kα2, che è 1,54184 A (λ nell'equazione di Bragg e nella formula di Scherler).



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