La serie TDFAnalizzatore di cristalli a raggi Xè uno strumento analitico su larga scala eStrumento a raggi Xutilizzato per studiare la microstruttura interna dei materiali. È utilizzato principalmente per l'orientamento di monocristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione dello stress residuo, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di monocristalli.