La serie TDFAnalizzatore di cristalli a raggi Xè uno strumento analitico su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. È utilizzato principalmente per l'orientamento di monocristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di monocristalli.