ILFissaggio a film sottile, prodotto daDandong Tongda Technology Co., Ltd.,è un accessorio funzionale specializzato progettato per il suoserie di diffrattometri a raggi XÈ progettato specificamente per l'analisi ad alta precisione della struttura cristallina di campioni a film sottile su substrati. Questo accessorio è meticolosamente integrato con le unità principali dei diffrattometri dell'azienda e funziona tramite un software dedicato per il controllo e l'acquisizione dei dati. Questo sistema integrato fornisce un supporto completo durante l'intero processo, dal posizionamento preciso del campione all'analisi dei risultati finali.

Il vantaggio principale di questo accessorio risiede nel suo design ottico ottimizzato. Utilizzando lame a fessura estese, filtra efficacemente la radiazione diffusa generata durante la misurazione. Questa caratteristica è fondamentale per l'analisi di film sottili perché quando i raggi X colpiscono un campione composto sia da un film che da un substrato, il segnale risultante contiene informazioni sovrapposte da entrambi gli strati. Il segnale di diffrazione tipicamente intenso proveniente dal substrato può facilmente sovrastare il debole segnale proveniente dal film sottile, compromettendo l'accuratezza. L'accessorio per film sottili risolve questo problema condizionando fisicamente i fasci di raggi X incidenti e diffratti. Sopprime significativamente l'interferenza di fondo proveniente dal substrato, migliorando così il segnale di diffrazione specifico proveniente dal film sottile stesso. Ciò si traduce in dati di test più chiari, affidabili e di qualità superiore. Il design tiene conto della diversità dei campioni di film sottili, rendendolo adattabile all'analisi di film con spessori che vanno da pochi nanometri a diversi micrometri, ampliando così il suo campo di applicazione pratico.

Come produttore professionale di analisi a raggi X estrumenti di prova non distruttivi,Dandong Tongda Technology posiziona questo accessorio come uno strumento chiave per la ricerca, lo sviluppo e l'ispezione di materiali avanzati in settori come la protezione ambientale e l'elettronica. La sua linea di prodotti principale, esemplificata daDiffrattometri a raggi X serie TD,pone l'accento su misurazioni ad alta precisione e controllo automatizzato. Questo attacco per film sottile è un modulo di espansione professionale essenziale per queste piattaforme strumentali, consentendo analisi ad alte prestazioni di campioni con basso contenuto o segnali deboli, come film sottili e rivestimenti. Dimostra la profonda competenza tecnica dell'azienda nell'analisi dei materiali. Svolgendo un ruolo significativo nel controllo qualità e nella ricerca e sviluppo in settori all'avanguardia come i nuovi materiali energetici e i rivestimenti per semiconduttori, consente ai ricercatori di acquisire informazioni più approfondite sulla struttura dei materiali.