Lo spettro di diffrazione dei raggi X analizza principalmente lo stato cristallino e la microstruttura del materiale, poiché la lunghezza d'onda del raggi Xè simile alla costante reticolare del cristallo, irradiato sul materiale cristallino, e il modello di diffrazione generato dall'analisi può determinare la struttura atomica e il tipo di cristallo. Esistono due misurazioni di diffrazione dei raggi X peranalisi dei cristalli.

1. Metodo dello spettro di diffrazione dei raggi X,Diffrattometro a raggi Xla struttura di base è composta da tre parti: sorgente di raggi X, goniometro, rilevatore.

Di solito, la sorgente di raggi X viene prodotta utilizzando un fascio di elettroni per colpire un bersaglio di rame. I raggi X caratteristici Ka vengono misurati da un singolo selettore di frequenza. La lunghezza d'onda ottica Cu-KaX è 1,542 A, risultando in unDiffrazione di raggi Xspettro. Prendi lo schema di diffrazione del cristallo singolo come mostrato nella figura a destra. La direzione del piano del prodotto (400) si ottiene dall'angolo di cresta di diffrazione rispetto al grafico standard di diffrazione del cristallo di polvere. Maggiore è l'intensità della cresta e più stretta è la larghezza della mezza altezza, migliori saranno le caratteristiche del prodotto.

2. Metodo Laue della riflessione posteriore dei raggi X

Il metodo Laue della riflessione dei raggi X è uno spettro ottenuto utilizzandoIrradiazione con raggi X di cristalli. L'irradiazione di raggi X su un singolo wafer di silicio fisso produrrà un fenomeno di diffrazione a determinati angoli secondo la legge di Bragg, come mostrato nella figura a sinistra, e lo schema di diffrazione del riflesso di Laue del singolo cristallo (100) è mostrato nella figura a lato Giusto. Questo metodo può essere utilizzato per distinguere la direzione cristallina di un singolo cristallo.