In settori quali la scienza dei materiali, la produzione di semiconduttori e la biomedicina, Diffrattometri a raggi Xsono strumenti fondamentali per la caratterizzazione delle strutture cristalline dei materiali, delle composizioni di fase e dei parametri reticolari. La diversità delle forme dei campioni – polvere, film sottili, materiali sfusi, monocristalli, ecc. – impone requisiti rigorosi in termini di adattabilità di tali apparecchiature. Essendo uno dei principali centri di produzione cinesi perDiffrattometri a raggi X,Dandong Tongdaha sviluppato e prodotto una serie diDiffrattometri a raggi Xcaratterizzati da un design modulare e da una tecnologia di controllo preciso del percorso ottico. Queste funzionalità consentono la compatibilità con scenari completi per campioni che vanno dalle polveri ai film sottili, fornendo un supporto tecnico affidabile per la ricerca sui materiali e il controllo qualità in diversi settori.

L'analisi efficiente dei campioni di polvere è un punto di forza fondamentale diDiffrattometri a raggi X di Dandong Tongdae una delle ragioni principali del loro diffuso utilizzo nell'esplorazione geologica e nella ricerca e sviluppo di materiali chimici. Per i campioni di polvere, questa serie di strumenti è dotata di portacampioni dedicati che supportano metodi di preparazione convenzionali come la pellettizzazione e la strisciolinatura. La precisione di regolazione orizzontale e angolare del portacampioni può raggiungere 0,001°, garantendo un rigoroso parallelismo tra la superficie del campione e il percorso ottico incidente. Inoltre, il rivelatore ad alta sensibilità e il sistema ottico ottimizzato catturano efficacemente i segnali di picco caratteristici dalla diffrazione della polvere. Anche i campioni di polvere drogati in tracce possono essere accuratamente identificati per la composizione di fase. Ad esempio, nello sviluppo di materiali catodici per batterie al litio, i ricercatori possono utilizzareDiffrattometri a raggi Xper analizzare rapidamente la purezza cristallina della polvere di fosfato di ferro e litio e valutare il grado di difetti reticolari, fornendo indicazioni basate sui dati per l'ottimizzazione delle prestazioni dei materiali.

Per soddisfare le precise esigenze di caratterizzazione dei campioni di film sottili,Diffrattometri a raggi X di Dandong Tongda dimostrano una forte adattabilità tecnica. I materiali a film sottile presentano generalmente caratteristiche quali spessore ultrasottile (scala nanometrica-micrometrica), scarsa adesione e suscettibilità all'interferenza del substrato, rendendo difficile per i diffrattometri convenzionali separare efficacemente i segnali di diffrazione del film e del substrato. Per risolvere questo problema, Diffrattometri a raggi XUtilizzano la tecnologia di diffrazione dei raggi X a incidenza radente (GIXRD). Controllando i raggi X incidenti in modo che colpiscano la superficie del campione con un angolo molto piccolo (0,1°–2°), l'interferenza del segnale del substrato viene significativamente ridotta, consentendo un'analisi mirata della struttura cristallina del film sottile. Il portacampioni per film sottile dello strumento supporta anche l'adsorbimento sotto vuoto o il fissaggio con adesivo conduttivo, impedendo lo spostamento dei campioni di film sottile durante i test. Ciò soddisfa i requisiti di rilevamento in settori quali i rivestimenti di chip semiconduttori, i film sottili ottici e i dispositivi elettronici flessibili. Ad esempio, nella ricerca e sviluppo sui film sottili delle celle solari, lo strumento può analizzare accuratamente la cristallinità e l'orientamento dei film sottili di perovskite, contribuendo a migliorare l'efficienza di conversione fotoelettrica delle celle.

Oltre alle polveri e ai film sottili, ilDiffrattometri a raggi XEstendere ulteriormente la loro adattabilità a più forme di campione attraverso accessori modulari. Per campioni sfusi e monocristallini, è possibile installare portacampioni monocristallini specializzati per consentire la rotazione e il posizionamento tridimensionale. Per materiali unidimensionali come fibre e nanofili, i portacampioni in fibra garantiscono l'allineamento lungo direzioni specifiche per ottenere dati di diffrazione orientati. Inoltre, gli strumenti supportano funzionalità di test in situ e possono essere abbinati a moduli ausiliari come alta/bassa temperatura o alta pressione per consentire il monitoraggio dinamico delle strutture del campione in diverse condizioni ambientali, ampliandone così gli scenari applicativi.

Sullo sfondo della rapida ascesa degli strumenti scientifici nazionali, Diffrattometri a raggi X di Dandong TongdaGrazie alla loro flessibilità di adattamento dei campioni e all'elevata convenienza, hanno infranto il monopolio di mercato delle apparecchiature importate. Dalla ricerca fondamentale sui materiali in laboratorio al controllo qualità sulle linee di produzione industriale, le loro capacità di analisi precise per diverse forme di campione li rendono strumenti essenziali per l'innovazione nella scienza dei materiali e nell'aggiornamento industriale.