Nel campo della tecnologia moderna, molti prodotti high-tech, dai substrati degli schermi degli smartphone ai componenti principali dei generatori laser, si basano su un materiale fondamentale: i monocristalli sintetici. La precisione dell'angolo di taglio di questi cristalli determina direttamente le prestazioni e la resa dei prodotti finali.

Analizzatore di orientamento a raggi XÈ uno strumento indispensabile nella produzione di precisione di dispositivi a cristallo. Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, misura in modo accurato e rapido gli angoli di taglio di monocristalli naturali e sintetici, inclusi cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser e cristalli semiconduttori.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. offre una gamma di affidabili analizzatori di orientamento a raggi X, studiati appositamente per le esigenze di ricerca, elaborazione e produzione del settore dei materiali cristallini.

01 Macchina versatile per diverse esigenze di orientamento dei cristalli

Analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongdaincludono principalmente modelli come TYX-200 e TYX-2H8.

Il modello TYX-200 vanta una precisione di misura di ±30", con display digitale e una lettura minima di 10". Il modello TYX-2H8 è una versione migliorata del TYX-200, con miglioramenti nella struttura del goniometro, nella guida portante, nel manicotto del tubo radiogeno, nel corpo di supporto e in un tavolino portacampioni rialzato. Questi miglioramenti consentono al TYX-2H8 di gestire campioni di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri compresi tra 2 e 8 pollici. Mantiene un display digitale dell'angolo e una precisione di misura di ±30".

02 Caratteristiche tecniche avanzate per un funzionamento intuitivo

Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono progettati pensando a praticità e affidabilità. Il loro funzionamento intuitivo non richiede conoscenze specialistiche o competenze avanzate da parte dell'operatore.

Lo strumento è dotato di un display digitale dell'angolo, che garantisce misurazioni intuitive e di facile lettura, riducendo al minimo il rischio di errori di lettura. Il display può essere azzerato in qualsiasi posizione, consentendo la lettura diretta della deviazione dell'angolo del wafer.

Alcuni modelli sono dotati di doppi goniometri per il funzionamento simultaneo, migliorando significativamente l'efficienza di rilevamento. Uno speciale integratore con amplificazione di picco migliora la precisione di misurazione.

Il tubo a raggi X e il cavo ad alta tensione adottano un design integrato, migliorando l'affidabilità dell'alta tensione. Il sistema ad alta tensione del rivelatore utilizza un modulo ad alta tensione CC e la fase di campionamento ad aspirazione sotto vuoto migliora ulteriormente la precisione e la velocità di misurazione.

03 Progettazione di fasi di campionamento dedicate per varie esigenze di test

Per soddisfare i requisiti di misurazione di campioni di diverse forme e dimensioni, Dandong Tongda offre una varietà di stadi di campionamento specializzati:

• Tavolino portacampioni TA: progettato per cristalli a bastoncino, è dotato di un binario portante e può testare barre di cristallo del peso di 1–30 kg con diametri di 2–6 pollici (espandibili a 8 pollici). Questo tavolino può misurare superfici di riferimento di cristalli a bastoncino e superfici di cristalli a wafer.

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• Stadio di campionamento TB: progettato anch'esso per cristalli a bastoncino, include un binario portante e guide di supporto a V. Può testare barre di cristallo del peso di 1–30 kg, con diametri di 2–6 pollici (espandibili a 8 pollici) e lunghezze fino a 500 mm. Misura le superfici terminali dei cristalli a bastoncino e quelle dei cristalli a wafer.

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• Tavolino portacampioni TC: utilizzato principalmente per rilevare le superfici di riferimento esterne di wafer monocristallini come silicio e zaffiro. La sua piastra di aspirazione a design aperto evita l'ostruzione dei raggi X e le imprecisioni di posizionamento. La pompa di aspirazione del tavolino portacampioni trattiene saldamente wafer di dimensioni comprese tra 2 e 8 pollici, garantendo un rilevamento preciso.

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• Tavolino portacampioni TD: progettato per misurazioni multi-punto di wafer come silicio e zaffiro. I wafer possono essere ruotati manualmente sul tavolino (ad esempio, 0°, 90°, 180°, 270°) per soddisfare le specifiche esigenze di misurazione del cliente.

04 Modello ad alte prestazioni per sfide su campioni di grandi dimensioni

Per la rilevazione di campioni di grandi dimensioni e complessi, gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda dimostrano prestazioni eccezionali. Il modello TYX-2H8, ad esempio, è particolarmente adatto per l'orientamento di lingotti e barre di cristallo di zaffiro.

Questo strumento supporta la misurazione degli orientamenti del cristallo di zaffiro A, C, M e R, con un intervallo di misura regolabile da 0 a 45° tramite automazione elettrica. Le sue specifiche tecniche sono impressionanti:

• Tubo a raggi X con bersaglio in rame, anodo collegato a terra e raffreddamento ad aria forzata.

• Corrente del tubo regolabile: 0–4 mA; tensione del tubo: 30 kV.

• Funzionamento tramite computer o controllo touchscreen.

• Movimento sincronizzato del tubo a raggi X e del rilevatore; tavola rotante azionata elettricamente.

• Consumo energetico totale: ≤2 kW.

In particolare, la sua capacità di gestione dei campioni include lingotti di cristallo dal peso fino a 30-180 kg, con dimensioni massime di 350 mm di diametro e 480 mm di lunghezza. Queste capacità lo rendono adatto al rilevamento di campioni di grandi dimensioni nella maggior parte degli scenari industriali.

05 Ampie applicazioni a supporto di molteplici settori

Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono ampiamente utilizzati in vari settori coinvolti nella ricerca, lavorazione e produzione di materiali cristallini.

• Nell'industria dei semiconduttori, consentono il taglio preciso e orientato dei wafer di silicio.

• Nel campo dell'optoelettronica vengono utilizzati per la lavorazione di precisione di substrati di zaffiro, cristalli ottici e cristalli laser.

• Nel settore dei materiali piezoelettrici, garantiscono misurazioni precise dell'angolo di taglio per prestazioni stabili del prodotto finale.

Gli strumenti sono particolarmente adatti per i materiali in zaffiro, molto richiesti per la loro durezza, l'elevata trasmittanza luminosa e l'eccellente stabilità fisico-chimica. Lo zaffiro è ampiamente utilizzato nei substrati LED, negli schermi elettronici di consumo e nelle finestre ottiche.

Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono diventati strumenti essenziali nei settori della ricerca e della produzione di materiali cristallini in Cina, grazie alle loro prestazioni affidabili, alle diverse configurazioni e alla forte adattabilità.

Il design modulare e la varietà di opzioni di fase di campionamento consentono agli utenti di selezionare configurazioni che soddisfano esigenze specifiche, garantendo un'elevata precisione di rilevamento e migliorando al contempo l'efficienza del lavoro.

Che si tratti di istituti di ricerca o di controllo qualità della produzione e ottimizzazione dei processi, questi strumenti forniscono un solido supporto tecnico, consentendo agli utenti di raggiungere risultati rivoluzionari nella produzione di precisione.