Gli strumenti di misura di precisione prodotti da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. stanno entrando progressivamente nel mercato globale. Il suo prodotto principale, l'orientatore di cristalli a raggi X, con una precisione di posizionamento di ±30 secondi d'arco e una capacità di carico massima di 30 chilogrammi, svolge un ruolo chiave nella ricerca e nella lavorazione dei materiali cristallini a livello mondiale, fornendo un supporto tecnico affidabile per la ricerca scientifica sui materiali e la produzione industriale.

Principio di funzionamento

Basandosi sulla teoria della diffrazione dei raggi X, questo orientatore è in grado di determinare in modo rapido e preciso gli angoli di taglio di materiali monocristallini naturali e artificiali.

L'attrezzatura può essere utilizzata in combinazione con vari dispositivi di taglio ed è ampiamente utilizzata nel taglio con orientamento preciso di cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser e cristalli semiconduttori. È diventata un'attrezzatura chiave indispensabile nel processo di produzione di precisione di dispositivi a cristallo.

Per soddisfare le diverse esigenze dei diversi clienti, Dandong Tongda Technology ha sviluppato diversi modelli di serie di orientatori di cristalli.

L'orientatore di cristalli a raggi X TYX-200 ha un errore di posizionamento non superiore a ±30 secondi d'arco, è dotato di un'interfaccia di visualizzazione digitale e offre una precisione di lettura minima di 10 secondi d'arco.

Il modello aggiornato TYX-2H8 integra ottimizzazioni complete alla struttura del goniometro, rispetto al modello base. Aggiunge un binario portante, un manicotto per il tubo radiogeno e un sistema di supporto, aumentando al contempo l'altezza del portacampioni. Può gestire campioni di peso compreso tra 1 e 30 chilogrammi e di diametro compreso tra 2 e 8 pollici.

Vantaggi tecnici

Questa serie di strumenti è caratterizzata da caratteristiche operative intuitive, che consentono agli operatori di iniziare rapidamente anche senza una formazione specialistica in cristallografia.

L'interfaccia di visualizzazione digitale dell'angolo rende il processo di osservazione più intuitivo, evitando efficacemente gli errori di lettura umana. Il dispositivo di visualizzazione supporta l'azzeramento in qualsiasi posizione, facilitando la lettura diretta del valore di deviazione angolare del wafer.

Il sistema a doppio goniometro consente il funzionamento simultaneo, migliorando significativamente l'efficienza dell'ispezione. Dotato di un integratore specializzato con funzione di amplificazione del picco, ottimizza ulteriormente la precisione di rilevamento.

In termini di configurazione hardware, il tubo a raggi X e il cavo ad alta tensione adottano un design integrato, migliorando la stabilità del sistema ad alta tensione. La parte ad alta tensione del rivelatore utilizza la tecnologia del modulo ad alta tensione CC, combinata con una piattaforma di campionamento ad adsorbimento sotto vuoto, migliorando notevolmente la precisione e l'efficienza della misurazione angolare.

Ambito di applicazione

Nella ricerca scientifica, gli orientatori di cristalli a raggi X sono diventati uno strumento importante per l'analisi dei materiali.

Il loro ambito di applicazione copre diversi campi chiave, tra cui cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser e cristalli semiconduttori. Questi dispositivi svolgono un ruolo fondamentale nella ricerca fondamentale, nello sviluppo di processi e nei processi di produzione di materiali cristallini, promuovendo vigorosamente il progresso della scienza dei materiali.

Il modello TYX-2H8, progettato specificamente per materiali in zaffiro, può soddisfare i requisiti di misurazione per vari orientamenti dello zaffiro come A, C, M e R. Il suo intervallo di misurazione è 0~45° con regolazione elettrica automatica e può supportare misurazioni di grumi di cristallo con un peso fino a 30~180 chilogrammi, ampliando notevolmente il campo di applicazione dell'apparecchiatura.

Configurazioni professionali

Per soddisfare i requisiti specifici dei diversi scenari applicativi, Dandong Tongda Technology ha sviluppato diverse configurazioni dedicate per la fase di campionamento.

Il Sample Stage della serie TA è progettato specificamente per cristalli cilindrici ed è dotato di un binario portante dedicato, in grado di gestire materiali in barre di cristallo dal peso di 1 a 30 chilogrammi con diametri di 2-6 pollici (espandibili a 8 pollici).

Il tavolino portacampioni della serie TB è dotato di guide di supporto a V, simili a quelle del modello TA, che consentono la misurazione di cristalli a bastoncino lunghi fino a 500 millimetri. Il goniometro di questo modello supporta anche la misurazione delle superfici terminali di cristalli a bastoncino.

Il Sample Stage della serie TC è principalmente adatto per rilevare la superficie di riferimento della circonferenza esterna di wafer monocristallini come silicio e zaffiro. L'area di ricezione dei raggi X sulla sua piattaforma di aspirazione adotta un design strutturale aperto, risolvendo efficacemente i problemi tecnici delle tradizionali piastre di aspirazione che bloccano i raggi X e ne causano un posizionamento impreciso.

Il portacampioni della serie TD è pensato per le esigenze di misurazione multi-punto di wafer come silicio e zaffiro. Il wafer può essere ruotato e posizionato manualmente sul portacampioni, supportando diverse posizioni angolari standard come 0°, 90°, 180° e 270°, soddisfacendo pienamente le specifiche esigenze di ispezione degli utenti per le caratteristiche dei wafer.

Con la continua crescita della domanda globale di strumenti di misurazione di precisione, guidata dal progresso tecnologico, Dandong Tongda Technology Co., Ltd., affidandosi ai suoi concetti tecnici innovativi, alle prestazioni stabili dei prodotti e al sistema completo di assistenza post-vendita, sta gradualmente guadagnando un ampio riconoscimento per gli strumenti di precisione di fabbricazione cinese nel mercato internazionale.