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L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento analitico a raggi X su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. Viene utilizzato principalmente per l'orientamento di singoli cristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di singoli cristalli. L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta un manicotto tubolare verticale e può utilizzare quattro finestre contemporaneamente. L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta la tecnologia di controllo PLC importata, con elevata precisione di controllo e buone prestazioni anti-interferenza, che possono ottenere un funzionamento affidabile del sistema. Il PLC controlla l'interruttore ad alta tensione, il sollevamento e ha la funzione di addestrare automaticamente il tubo a raggi X, estendendo efficacemente la durata utile del tubo a raggi X e dello strumento a raggi X.

Il diffrattometro a raggi X TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. Benchtop XRD è un'apparecchiatura sperimentale utilizzata per analizzare la struttura cristallina dei materiali. Benchtop XRD determina la struttura cristallina, i parametri del reticolo e la composizione di fase del materiale emettendo raggi X e misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità dopo la loro interazione con il campione.

Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori! È un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in campi come la scienza dei materiali, la chimica, la fisica e la geologia.

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X su polvere TD-3700 supporta sia i metodi convenzionali di scansione dei dati a diffrazione sia quelli di scansione dei dati a trasmissione. Il diffrattometro a raggi X in polvere TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di rilevatori ad alte prestazioni. Rispetto ai rilevatori a scintillazione o ai rilevatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve.

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è uno strumento analitico utilizzato per studiare la struttura e le proprietà delle sostanze. XAFS ottiene informazioni su atomi e molecole in un campione misurando l'assorbimento dei raggi X del campione entro un intervallo di energia specifico. XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali. La tecnologia XAFS è ampiamente utilizzata nella scienza dei materiali, nella chimica, nella biologia e in altri campi, in particolare in aree di ricerca come catalisi, batterie, sensori, ecc. XAFS ha un importante valore applicativo. Attraverso la tecnologia XAFS, i ricercatori possono acquisire una comprensione più approfondita della microstruttura e delle proprietà dei campioni, fornendo un potente supporto per la progettazione e l'ottimizzazione di nuovi materiali.

Il diffrattometro a raggi X a cristallo singolo viene utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli geminati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa lunghezza di legame, angolo di legame, configurazione, conformazione e persino densità elettronica di legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a raggi X a cristallo singolo può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. La diffrattometria a raggi X a cristallo singolo è ampiamente utilizzata nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. La diffrazione di raggi X monocristallina ha un'elevata precisione: Precisione di ripetibilità dell'angolo 2θ: 0,0001°; Angolo minimo del passo: 0,0001°; Intervallo di controllo della temperatura: 100K-300K Precisione di controllo: ±0,3K Lo strumento di misurazione dell'angolo a cristallo singolo seleziona quattro cerchi di scansione concentrici. La diffrazione XRD monocristallina adotta una configurazione a bassa temperatura. Il personale tecnico dell'azienda ha completato l'installazione e il debug del diffrattometro a raggi X monocristallino straniero e i risultati dei test hanno ampiamente soddisfatto gli utenti stranieri. Allo stesso tempo, la funzionalità, la stabilità e il servizio post-vendita dello strumento hanno ricevuto elogi unanimi dagli utenti stranieri. Nel complesso, il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X svolge un ruolo insostituibile come importante strumento scientifico nella ricerca e nell'applicazione in molteplici discipline. Con il continuo progresso e l'innovazione della tecnologia, crediamo che in futuro, il diffrattometro a cristallo singolo XRD dimostrerà il suo valore e potenziale unici in più campi.

La macchina portatile per test di saldatura a raggi X NDT è un tipo di apparecchiatura di ispezione radiografica in grado di generare raggi X e ha molteplici utilizzi. La macchina portatile a raggi X per l'ispezione delle saldature può essere utilizzata in campo industriale e medico. Nell'industria, viene utilizzata per il rilevamento di difetti nella produzione di componenti automobilistici, rilevamento di mozzi ruota, rilevamento di telai ausiliari, rilevamento della qualità delle cerniere, ecc., per garantire che i prodotti industriali testati abbiano un'elevata resistenza. Inoltre, appartiene alle apparecchiature di ispezione delle saldature a raggi X ed è comunemente utilizzata per il rilevamento di saldature, il rilevamento di saldature di caldaie, il rilevamento di saldature di componenti aerospaziali, ecc.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento a raggi X su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. Utilizza il principio di interazione tra raggi X e cristallo per determinare la disposizione atomica all'interno del cristallo analizzando il modello di diffrazione dei raggi X. Utilizzato principalmente per l'orientamento di cristalli singoli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione dello stress residuo, lo studio della struttura di piastre e barre, l'indagine della struttura di sostanze sconosciute e dislocazioni di cristalli singoli. L'analizzatore di cristalli a raggi X, in quanto strumento a raggi X, fornisce informazioni preziose per la ricerca scientifica sui materiali e altri campi correlati. Con il continuo progresso della tecnologia e l'espansione delle applicazioni, l'analizzatore di cristalli a raggi X continuerà a svolgere un ruolo importante nella ricerca scientifica e nella produzione industriale.

Lo strumento di orientamento automatico a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio di diffrazione dei raggi X per determinare la struttura cristallina, l'orientamento e i parametri del reticolo. Ha un'ampia gamma di applicazioni nella scienza dei materiali, geologia, fisica e chimica, in particolare nello studio della microstruttura e delle proprietà di materiali monocristallini, policristallini e materiali a film sottile. Quanto segue fornirà un'introduzione dettagliata al principio di funzionamento, all'applicazione e alle precauzioni operative dell'orientatore di cristalli a raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia, i dispositivi di strumenti di orientamento automatico a raggi X continuano a migliorare, con una risoluzione più elevata e un funzionamento più semplice. Allo stesso tempo, la combinazione con altre tecniche analitiche come la microscopia elettronica e l'analisi spettroscopica rende l'analisi della struttura cristallina più completa e approfondita. Inoltre, i dispositivi di analisi dell'orientamento a raggi X portatili e di monitoraggio online si sono gradualmente sviluppati, offrendo possibilità di analisi in loco e monitoraggio in tempo reale. In sintesi, l'analizzatore di orientamento a raggi X è un potente strumento analitico che è fondamentale per comprendere e controllare la microstruttura dei materiali. Con il continuo sviluppo della tecnologia, la sua applicazione in vari campi diventerà più estesa e approfondita.

Il monocromatore a cristallo curvo in grafite è un importante accessorio per l'analisi della diffrazione dei raggi X, utilizzato principalmente per monocromatizzare i raggi X che passano attraverso la fessura ricevente, migliorando così l'accuratezza e il rapporto segnale/rumore dell'analisi. Questo monocromatore utilizza la struttura specifica dei cristalli di grafite per riflettere selettivamente i raggi X incidenti, consentendo solo ai raggi X di lunghezze d'onda specifiche (solitamente raggi X caratteristici Kα) di passare, filtrando al contempo altri componenti indesiderati dei raggi X come raggi X continui, raggi X caratteristici Kβ e raggi X fluorescenti. Questa riflessione selettiva si basa sulla legge di Bragg, che afferma che quando l'angolo tra la luce incidente e il piano del cristallo soddisfa determinate condizioni, si verifica una dispersione coerente, formando picchi di diffrazione. Quando si utilizza questo monocromatore, è necessario prestare attenzione alla preparazione e al posizionamento del campione per garantire l'accuratezza e la simmetria dei picchi di diffrazione. I monocromatori a cristallo curvo in grafite sono ampiamente utilizzati nei campi di ricerca sui materiali come chimica, ingegneria chimica, macchinari, geologia, minerali, metallurgia, materiali da costruzione, ceramiche, prodotti petrolchimici e farmaceutici. In questi campi, vengono utilizzati per l'analisi della diffrazione dei raggi X per studiare le proprietà fisiche dei materiali come struttura cristallina, transizione di fase, stato di stress, ecc. Gli accessori del diffrattometro a raggi X migliorano significativamente l'accuratezza e l'affidabilità dell'analisi aumentando il rapporto picco/fondo e riducendo il rumore di fondo.