La struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali basati sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone.
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La tecnologia XRD gioca un ruolo importante nella ricerca e nello sviluppo di materiali ceramici. Fornisce una base scientifica affidabile per la sintesi, l'ottimizzazione del processo di preparazione, il miglioramento delle prestazioni e la divulgazione applicativa dei materiali ceramici.
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La diffrazione dei raggi X delle polveri, come uno dei metodi per lo studio del polimorfismo dei farmaci, presenta i vantaggi di non distruggere i campioni e di essere semplice da usare, ed è attualmente il metodo principale per l'analisi qualitativa e quantitativa del polimorfismo dei farmaci.
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La tecnica di diffrazione dei raggi X è ampiamente utilizzata nell'analisi dei farmaci. La tecnica di diffrazione dei raggi X è un metodo analitico utilizzato per studiare la struttura di una sostanza. Questa tecnica ha molte applicazioni nell'analisi dei farmaci.
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La diffrazione dei raggi X su polvere, come uno dei metodi per lo studio del polimorfismo dei farmaci, presenta il vantaggio di non distruggere il campione e di essere semplice da usare.
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Negli ultimi 10 anni, l'Istituto di Fisica dell'Accademia Cinese delle Scienze ha utilizzato il metodo della diffrazione delle polveri per determinare la struttura cristallina di molti composti organici e inorganici.
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Essendo uno dei mezzi più importanti per la caratterizzazione della struttura dei materiali, l'XRD è ampiamente utilizzato nei materiali, nella fisica, nella chimica, nella medicina e in altri campi.
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GIWAXS è una tecnica per caratterizzare la microstruttura interna di campioni di film sottile. La dimensione della struttura corrispondente è compresa tra 10 nm e 1 um, quindi è ampiamente utilizzata per caratterizzare la cristallizzazione all'interno delle celle solari a film sottile.
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Il diffrattometro a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio dell'interazione tra raggi X e sostanze per ottenere informazioni come la struttura cristallina e la costante reticolare delle sostanze misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità dei raggi X nelle sostanze.
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